產(chǎn)品分類
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簡要描述:日本KITA 半導(dǎo)體PCB 檢查的彈簧探針標(biāo)準(zhǔn)型K-026-2CAK2系列是KITA公司針對(duì)PCB(印刷電路板)測試(如ICT、FCT)設(shè)計(jì)的標(biāo)準(zhǔn)彈簧探針(Test Probe).以高耐久性、穩(wěn)定接觸電阻和緊湊結(jié)構(gòu)為特點(diǎn),廣泛應(yīng)用于電子制造領(lǐng)域的測試環(huán)節(jié)。
深圳納加霍里科技專業(yè)代理銷售日本KITA 半導(dǎo)體PCB 檢查的彈簧探針標(biāo)準(zhǔn)型)K-026-2CA 產(chǎn)品特點(diǎn)如下:
日本KITA 半導(dǎo)體PCB 檢查的彈簧探針標(biāo)準(zhǔn)型K-026-2CA 擁有多種用于電路板檢測的彈簧探針,從裸板測試到 ICT。除了彈簧探針的形狀和總長度的變化之外
PCB(印刷電路板)測試(如ICT、FCT)設(shè)計(jì)的標(biāo)準(zhǔn)彈簧探針(Test Probe),以高耐久性、穩(wěn)定接觸電阻和緊湊結(jié)構(gòu)為特點(diǎn),廣泛應(yīng)用于電子制造領(lǐng)域的測試環(huán)節(jié)。
核心特性
結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)
三件式結(jié)構(gòu):針管(Barrel)、彈簧(Spring)、針頭(Plunger)組成,內(nèi)部彈簧提供穩(wěn)定接觸壓力。
鍍金層:關(guān)鍵部位鍍金(如針頭),確保低接觸電阻(通常<50mΩ)和抗氧化性。
緊湊尺寸:直徑范圍常見為0.5mm~2.0mm,適合高密度PCB布局測試。
電氣性能
額定電流:1A~3A(視具體型號(hào)),電壓通常低于50V。
接觸電阻穩(wěn)定性:反復(fù)插拔后電阻變化率低,保障測試準(zhǔn)確性。
機(jī)械耐久性
壽命:典型值10萬~50萬次插拔(依據(jù)負(fù)載和環(huán)境條件)。
行程范圍:1.0mm~5.0mm(如K2-15系列行程3.0mm),提供彈性緩沖避免PCB損傷。
兼容性
適配多種測試治具(Fixture),如日本品牌(如JEMIC)或國際標(biāo)準(zhǔn)接口。
K-026-2CA 型號(hào)關(guān)鍵特性
基本結(jié)構(gòu)
屬于K2系列標(biāo)準(zhǔn)三件式彈簧探針(針管+彈簧+針頭),專為PCB測試(如ICT/FCT)設(shè)計(jì)。
鍍金接觸部分:確保低接觸電阻(典型值<30mΩ)和抗氧化,適合精密測試。
尺寸參數(shù)
外徑:可能為 1.5mm~2.0mm(參考K2系列常見尺寸)。
行程:預(yù)計(jì) 2.0mm~3.0mm(提供適度彈性緩沖,避免PCB損傷)。
總長:約 20mm~26mm(型號(hào)中的“026"可能暗示總長26mm)。
電氣性能
額定電流:約 1A~2A(標(biāo)準(zhǔn)K2系列范圍)。
電壓范圍:DC/AC 50V以下。
機(jī)械性能
壽命:預(yù)計(jì) 50,000~100,000次 插拔(依賴負(fù)載和操作環(huán)境)。
彈簧力:中等壓力(如100gf~300gf),平衡接觸可靠性與PCB保護(hù)。
應(yīng)用場景
ICT測試:檢測PCB開路、短路、元件焊接缺陷。
FCT測試:功能驗(yàn)證,需穩(wěn)定接觸供電和信號(hào)傳輸。
高頻測試:部分型號(hào)支持高頻信號(hào)(需選低電感設(shè)計(jì)變種)。
典型型號(hào)與參數(shù)示例
型號(hào)示例 | 直徑(mm) | 行程(mm) | 額定電流 | 壽命(次) |
---|---|---|---|---|
K2-10 | 1.0 | 2.5 | 1A | 100,000 |
K2-20 | 1.5 | 3.0 | 2A | 200,000 |
K2-30 | 2.0 | 5.0 | 3A | 50,000 |
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